检测过程中，IC芯片通过上料盘抵达检测区域，高清摄像头自动扫描被检物料表面实现图像采集，并将图像与数据库中合格参数进行对比后判别出不良品，并分拣至不良区，从而降低不良率。

案例用户为IC芯片外观检测设备制造商，为了实现150个IC芯片同时进行质量检测，对其设备中的核心计算单元-工业计算机的品质与性能提出了极高要求：

1.为了实现多数量IC芯片同时进行高效、快速、精准检测，打破IC芯片传统单个检测的低效状况，需要具备极强的数据处理能力；
2.为了实现外接兼容多种功能模块，需要具备超强扩展性；
3.为了保证检测数据的稳定、快速传输，需要具备稳定的运算能力与网络环境。

基于用户需求，源控提供了CIS-DQ47-FA01标准4U上架式箱体电脑，该系列产品具备以下优势：

超强性能

产品搭载Intel®10/11代Core™ CPU，强大数据处理能力，为用户实现16秒检测150个IC芯片，提供了强大的算力保障；

丰富I/O接口，扩展性强

产品同时具备6个串口、12个USB（8*USB 3.2、4*USB 2.0）、产品支持2x PCIe x16 (Gen3) 、2x PCIe x4 (Gen2)、2x PCIe x1 (Gen1)、1x PCI扩展槽，强大的扩展性能为用户实现外接高速网卡（用户通过此网卡实现外接4K高速工业检测相机）和高性能显卡等功能模块提供了强大助力；此外，16-bit可编程GPIO接口，充分支持外部监测设备连接，为工作人员提供了高效、便捷的监测环境；

Intel®千兆网口，数据传输稳定

为了实现150个IC芯片的全方位检测，用户通过产品的4个Intel®千兆网口，外接了4台高速工业检测相机（2台8K、2台4D）；稳定的数据传输性能极大程度上减少了图像传输过程中数据丢包现象的发生，可有效避免错检、漏检，保证检测质量；

特色功能OS Recovery

具备源控系列产品共有的OS Recovery硬件级别系统还原功能，在由断电、软件不兼容等情况导致的系统崩溃情况下只需一按，即可实现系统一键还原，解决了重装系统难度大、售后服务成本高等问题。