导读

IC芯片在封装工序之后，必须要经过严格地检测才能保证产品的质量，因此，芯片外观检测是一项必不可少的重要环节，直接影响到 IC 产品的质量及后续生产环节的顺利进行。

随着芯片技术和芯片封装技术的不断革新，芯片面积和封装面积均朝着更小、更轻、更薄化发展，引脚数增多，引脚间距减小，芯片外观检测的难度也不断增加，传统的人工检测方式已经难以满足检测的高要求，也无法适应大批量生产制造。随着人工智能的快速发展，以机器视觉检测代替传统人工检测已成为IC芯片外观检测的主流发展趋势，此方法以其检测速度快、检测精度高、使用维护较简便得到了广泛应用。

案例背景

案例用户为一家IC芯片外观检测设备制造商，为了实现150个IC芯片同时进行质量检测，对其设备中的核心计算单元-工业计算机的品质与性能提出了极高要求：

1.为了实现多数量IC芯片同时进行高效、快速、精准检测，打破IC芯片传统单个检测的低效状况，需要具备极强的数据处理能力；
2.为了实现外接兼容多种功能模块，需要具备超强扩展性；
3.为了保证检测数据的稳定、快速传输，需要具备稳定的运算能力与网络环境。

源控解决方案

基于用户需求，源控提供了CIS-DQ47-FA01标准4U上架式箱体电脑，该系列产品具备以下优势：

超强性能 

产品搭载Intel®10/11代Core™ i9/i7/i5/i3/Pentium®/Celeron®处理器，强大数据处理能力，为用户实现16秒检测150个IC芯片，提供了强大的算力保障。